磁(ci)(ci)粉檢測(ce)(ce)的(de)(de)原理是鐵磁(ci)(ci)材(cai)料經過磁(ci)(ci)化后產生強烈的(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應，磁(ci)(ci)場(chang)密(mi)度增加幾百到幾千倍。如(ru)果(guo)材(cai)料中存在不(bu)(bu)(bu)連續(xu)，包括缺陷引(yin)(yin)起的(de)(de)不(bu)(bu)(bu)連續(xu)和結(jie)構、形(xing)狀、材(cai)料等原因引(yin)(yin)起的(de)(de)不(bu)(bu)(bu)連續(xu)，磁(ci)(ci)場(chang)線(xian)就會發生變形(xing)，其中一些會從材(cai)料表(biao)面逃逸，穿過空間(jian)，形(xing)成漏磁(ci)(ci)磁(ci)(ci)場(chang)。漏磁(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)局部(bu)磁(ci)(ci)極(ji)可以吸引(yin)(yin)磁(ci)(ci)粉等鐵磁(ci)(ci)性物質，通過觀察磁(ci)(ci)粉的(de)(de)痕跡來達到探測(ce)(ce)目的(de)(de)。

磁粉檢測(ce)特點:視覺缺陷(xian)顯示，靈(ling)敏(min)度高，并能檢測極小的裂(lie)紋和其他缺陷(xian)。2. 檢(jian)測速(su)度快(kuai)，操作簡單，成(cheng)本低。3.適(shi)用于鐵(tie)磁性材(cai)料(liao)的(de)檢測，不能用于非鐵(tie)磁性材(cai)料(liao)的(de)檢測。4. 只能檢(jian)(jian)測表(biao)面和近表(biao)面缺陷，不能用于檢(jian)(jian)測內部缺陷。一般可以檢(jian)(jian)測到深度為1-2mm的近表面缺陷，而使用(yong)強直流磁場可以檢測到深度為3-5mm的近(jin)表面(mian)缺陷。5. 可用于(yu)(yu)檢測(ce)與磁(ci)場方向(xiang)夾(jia)角(jiao)(jiao)較大的缺陷，但不適用于(yu)(yu)檢測(ce)夾(jia)角(jiao)(jiao)小(xiao)于(yu)(yu)20°或與磁(ci)(ci)(ci)場方向(xiang)平行的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)檢測利用工(gong)件(jian)缺(que)陷(xian)(xian)位置的(de)(de)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場與磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)之間(jian)的(de)(de)相互作(zuo)用。它利用了(le)鋼(gang)(gang)制品表面缺(que)陷(xian)(xian)和近表面缺(que)陷(xian)(xian)之間(jian)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)導率差異以及鋼(gang)(gang)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)導率。這(zhe)些材料磁(ci)(ci)(ci)化后，不連續(xu)區域(yu)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)場會發生畸變(bian)，在工(gong)件(jian)表面的(de)(de)一些漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)位置形成漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)磁(ci)(ci)(ci)場，吸引磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)在缺(que)陷(xian)(xian)位置形成磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)堆(dui)積——磁(ci)痕(hen)。在適當的(de)(de)光(guang)照(zhao)條件下，通過揭示缺陷的(de)(de)位置和(he)(he)形(xing)狀，觀察和(he)(he)解釋(shi)這些(xie)磁(ci)顆粒的(de)(de)積累，實(shi)現磁(ci)顆粒檢測。