射(she)線檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術是一種常規(gui)的(de)無損檢(jian)測(ce)(ce)方法,在(zai)工業上有著(zhu)非常廣(guang)泛(fan)的(de)應用。作(zuo)為產品質(zhi)量(liang)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)重要手段,經過百年(nian)的(de)歷(li)史,已由簡(jian)單的(de)膠(jiao)片(pian)和(he)熒屏(ping)射(she)線照相發展(zhan)到了數字成像檢(jian)測(ce)(ce)。就(jiu)目前筆(bi)者單位采用的(de)DR系統檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術和(he)射(she)線膠(jiao)片(pian)檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術,來比較兩種檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術的(de)優(you)缺點、實用性和(he)發展(zhan)狀況(kuang)。

下面以數字射線中DR為例，簡單的(de)敘述(shu)一下采用DR檢測過(guo)程中的(de)步驟：

1. 根據檢測(ce)技術要求，設計檢測(ce)圖像(xiang)質(zhi)量(liang)指標(biao)。其中(zhong)包括對(dui)比度(du)(du)設計（即必(bi)須達(da)到的(de)像(xiang)質(zhi)計靈敏度(du)(du)）；確定需要達(da)到的(de)不(bu)清(qing)晰度(du)(du)，即選用合適的(de)DDA探測(ce)器(qi)，因為探測(ce)器(qi)的(de)像(xiang)素尺寸(cun)影(ying)響圖像(xiang)的(de)空間分(fen)辨力（有的(de)喜歡(huan)用分(fen)辨率，其實是一(yi)個性能指標(biao)），或者是圖像(xiang)不(bu)清(qing)晰度(du)(du)。

其中這第1步是三(san)級人員的要(yao)求，一般(ban)人跳過就好。

2. 按三級人(ren)員(yuan)確定的技(ji)術指標，選(xuan)擇成像板，射線(xian)機(ji)，圖像處理軟件和(he)顯示(shi)器(qi)（這也是DR檢(jian)(jian)測(ce)的一(yi)個很(hen)大的優勢，可(ke)以自己組(zu)建檢(jian)(jian)測(ce)系統，好比自己買配件來組(zu)裝電腦一(yi)樣(yang)，只需要兼(jian)容即(ji)可(ke)）組(zu)建檢(jian)(jian)測(ce)系統。

3. 對射線(xian)機進行訓(xun)機（這個跟常規射線(xian)檢(jian)測一樣），然后(hou)對成(cheng)像板進行暗場校(xiao)準（因為DDA探測器(qi)中的每(mei)個電子元(yuan)(yuan)器(qi)件由(you)于結構(gou)等不完全一致，存在(zai)本底(di)噪聲不同，暗場校(xiao)準是為了讓所有(you)元(yuan)(yuan)器(qi)件達到一個比較均(jun)勻(yun)的水平(ping)）。

暗場校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)后對成像(xiang)板進行亮場（也(ye)叫增益）校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)（好比(bi)相控陣(zhen)超聲波(bo)檢測(ce)(ce)中，對探頭晶片增益進行校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)一樣。同時這個亮場校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)也(ye)決定了(le)圖(tu)像(xiang)信噪(zao)比(bi)，當(dang)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)電(dian)壓大大低于射線檢測(ce)(ce)時采用的電(dian)壓時，可能會出(chu)現信噪(zao)比(bi)飽和的情況，也(ye)就是檢測(ce)(ce)的信噪(zao)比(bi)不夠。此時需要重新亮場校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)）。

最后(hou)對成(cheng)像(xiang)(xiang)板(ban)壞像(xiang)(xiang)素(su)進(jin)行(xing)校準（因為成(cheng)像(xiang)(xiang)板(ban)是(shi)電(dian)子(zi)器件(jian)，可能隨(sui)著(zhu)使用時(shi)間的(de)延長出現壞死，這(zhe)樣對成(cheng)像(xiang)(xiang)結(jie)果(guo)不(bu)利。這(zhe)個(ge)跟相控陣超聲波檢(jian)測中對探(tan)頭(tou)陣元壞死情況進(jin)行(xing)查看一(yi)樣，當壞死的(de)器件(jian)達到一(yi)定程(cheng)度時(shi)，就影響(xiang)檢(jian)測，這(zhe)個(ge)時(shi)候(hou)可能需要更換成(cheng)像(xiang)(xiang)板(ban)）

4. 按三級人員(yuan)確(que)定的(de)(de)透照技術進行射線檢測(ce)，透照布置圖如上圖2所示(shi)。這(zhe)里跟膠片(pian)法檢測(ce)一樣(yang)，唯一有區別的(de)(de)是(shi)探測(ce)器和工(gong)件可能不是(shi)緊(jin)貼的(de)(de)（膠片(pian)法中盡(jin)量緊(jin)貼）。

通常，DR射(she)線檢(jian)測也(ye)是(shi)需要曝光曲(qu)(qu)線的，與膠(jiao)片法(fa)射(she)線檢(jian)測不同(tong)的是(shi)，DR的曝光曲(qu)(qu)線是(shi)曝光量和厚度(du)，還有管(guan)電壓在一定的信噪比（而膠(jiao)片法(fa)里是(shi)黑(hei)度(du)）下的關系曲(qu)(qu)線。按(an)照(zhao)給定的曝光曲(qu)(qu)線，調節管(guan)電壓，管(guan)電流，積分(fen)時間和疊加幀數來(lai)進行曝光。

5. 采集圖像(xiang)(xiang)，對(dui)圖像(xiang)(xiang)進(jin)行分析處(chu)理(li)（這個(ge)(ge)時候(hou)，你(ni)發現(xian)了采集圖像(xiang)(xiang)后(hou)就直接進(jin)行評片(pian)(pian)了，這個(ge)(ge)跟(gen)膠片(pian)(pian)法不一(yi)樣(yang)，膠片(pian)(pian)法中還需要對(dui)底片(pian)(pian)進(jin)行暗室處(chu)理(li)，這里直接評片(pian)(pian)，省(sheng)下(xia)了很多時間）。