相(xiang)控陣檢測(ce)是一種無損檢測(ce)技(ji)術。今天我(wo)們主(zhu)要介紹相(xiang)控陣測(ce)試的延(yan)伸，相(xiang)控陣測(ce)試。

相(xiang)控陣檢(jian)測本身(shen)的(de)設計主(zhu)要涉(she)及幅值、相(xiang)位分(fen)布(bu)和(he)單元(yuan)(yuan)阻(zu)抗(kang)的(de)設計。陣列(lie)的(de)大小由波束寬度(du)最(zui)(zui)窄時的(de)寬度(du)值和(he)旁瓣(ban)電平(ping)決定(ding)。相(xiang)位分(fen)布(bu)主(zhu)要由光束要求(qiu)決定(ding)。由于單元(yuan)(yuan)方向圖和(he)阻(zu)抗(kang)的(de)限制，平(ping)面相(xiang)控陣的(de)最(zui)(zui)大掃描范圍(wei)通常為±60°的錐形(xing)，通過增(zeng)加球面透(tou)鏡也可以獲(huo)得半球形(xing)掃描。

如果(guo)只(zhi)需要方向(xiang)圖(tu)的最(zui)大值在(zai)空間中移動(掃描)，則只需(xu)要形成線性(xing)變化的(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)(wei)分布(bu)(bu)。在這一點上，方(fang)(fang)向(xiang)圖的(de)最大方(fang)(fang)向(xiang)垂直于等相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)平面。使用(yong)(yong)(yong)數(shu)字移相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)時(shi)(shi)，除了少數(shu)特(te)殊(shu)角度外，一般(ban)不能得到精確(que)的(de)線性(xing)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)(wei)分布(bu)(bu)。此時(shi)(shi)，寄生旁(pang)瓣可(ke)(ke)能出現在定(ding)向(xiang)圖的(de)某(mou)些方(fang)(fang)向(xiang)上，其(qi)大小與具(ju)體的(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)(wei)分布(bu)(bu)圖有關。為(wei)了滿(man)足特(te)殊(shu)要求，需(xu)要采用(yong)(yong)(yong)定(ding)向(xiang)方(fang)(fang)向(xiang)圖合成方(fang)(fang)法提前計(ji)算出所需(xu)的(de)陣列(lie)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)(wei)分布(bu)(bu)。例如(ru)，可(ke)(ke)以(yi)將陣列(lie)劃分為(wei)幾個區域(yu)，每個區域(yu)可(ke)(ke)以(yi)視為(wei)一個獨立的(de)陣列(lie)，從(cong)而(er)設計(ji)該陣列(lie)的(de)方(fang)(fang)向(xiang)圖。這可(ke)(ke)以(yi)導致多個波束同時(shi)(shi)存在于空間中，或者(zhe)可(ke)(ke)以(yi)使用(yong)(yong)(yong)特(te)殊(shu)的(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)(wei)分布(bu)(bu)來擴大方(fang)(fang)向(xiang)圖或形成余(yu)割平方(fang)(fang)方(fang)(fang)向(xiang)圖。

為了(le)簡化(hua)饋(kui)電結構，有些相控陣(zhen)天線的(de)幅(fu)值是相等的(de)。為了(le)克服(fu)振幅(fu)分布(bu)(bu)一(yi)定時副瓣電平(ping)高(gao)的(de)缺點，可以采用密度加權，即陣(zhen)列(lie)表面有源輻(fu)射(she)單元(yuan)的(de)分布(bu)(bu)是不均勻的(de)，其(qi)分布(bu)(bu)密度按一(yi)定的(de)規律變化(hua)。將無饋(kui)源輻(fu)射(she)單元(yuan)放(fang)置在主動輻(fu)射(she)單元(yuan)的(de)邊緣，改善輻(fu)射(she)單元(yuan)的(de)阻抗特(te)性(xing)。

相控(kong)陣天線中的輻射單元(yuan)(yuan)數量較多，失效單元(yuan)(yuan)數量在5%以下時，對(dui)天線(xian)陣(zhen)列(lie)性(xing)能的影響(xiang)不(bu)顯(xian)著，可(ke)靠性(xing)高。

在雷(lei)達中采用(yong)相(xiang)控陣天線后，波束(shu)控制的(de)(de)靈(ling)活性(xing)大大提(ti)高，因此可以(yi)制成多(duo)功能雷(lei)達，使一(yi)個雷(lei)達可以(yi)充當多(duo)個傳統雷(lei)達。隨(sui)著微波集成電路技術的(de)(de)發展(zhan)和新型(xing)移相(xiang)器(qi)的(de)(de)出現，相(xiang)控陣天線的(de)(de)成本不(bu)斷降低，體積越來越小，重(zhong)量也在進(jin)一(yi)步減(jian)輕(qing)。