相(xiang)控(kong)陣(zhen)檢測是指通過控(kong)制陣列檢測中輻射(she)單元的饋電相位來改變方向圖形狀的檢測。控(kong)制相位可(ke)以改(gai)變(bian)檢(jian)測(ce)方向圖最大值的(de)方向，從而實現(xian)波(bo)束掃(sao)描(miao)。

在特殊情況(kuang)下，還(huan)可(ke)以控制副瓣電平、最小位置(zhi)和(he)整(zheng)個圖(tu)案的(de)(de)形狀(zhuang)，例如獲得余弦(xian)平方圖(tu)案和(he)對圖(tu)案的(de)(de)自適應控制。采(cai)用機械方法旋(xuan)轉檢(jian)測時(shi)，慣性大(da)，速(su)度慢。相控陣檢(jian)測克(ke)服了這(zhe)一缺點(dian)，波(bo)束的掃描(miao)速(su)度(du)高。它的饋(kui)電相位一般由電子計(ji)算機控制，且(qie)相位變化速(su)度(du)快(以毫秒計(ji))，即(ji)檢測方(fang)(fang)向(xiang)圖或其他參數的最(zui)大方(fang)(fang)向(xiang)變化迅速。這是相控陣檢測(ce)最大的特點(dian)。

一(yi)般來說，相(xiang)(xiang)控(kong)陣(zhen)檢測(ce)應該控(kong)制(zhi)每個輻射單(dan)(dan)元的相(xiang)(xiang)位。為了節省移(yi)相(xiang)(xiang)器和簡(jian)化控(kong)制(zhi)電路，有時幾個輻射單(dan)(dan)元共(gong)用一(yi)個移(yi)相(xiang)(xiang)器。共(gong)享移(yi)相(xiang)(xiang)器的單(dan)(dan)元組(zu)合稱為子陣(zhen)列。

為了(le)降(jiang)低成本和簡化結構，可以將(jiang)檢測設(she)計為在一(yi)維范(fan)圍內(如在水平(ping)面上)機械旋轉(zhuan)，而采用相位控制來(lai)控制波束在另一(yi)維(wei)范圍內(如在垂(chui)直平面(mian)上)的(de)掃(sao)描(miao)。這種混合掃(sao)描(miao)檢測得(de)到了廣泛的應用(yong)。

相控陣檢(jian)測(ce)的關鍵部件是移相(xiang)器和檢測輻射單元。移相器有兩種類(lei)型:連續(xu)移相(xiang)器和數字移相(xiang)器。連續(xu)移相(xiang)器的(de)相(xiang)移值(zhi)可以在0°到360°的(de)范圍(wei)內(nei)連續變化(hua)，而(er)數字移相(xiang)器的(de)相(xiang)移值是離散的(de)，只能是360°× (1/2) ^ n的整數倍，其(qi)中n為數(shu)(shu)字移相器的位(wei)數(shu)(shu)。例如，3位數字(zi)移(yi)相器的(de)相移(yi)值只(zhi)能為45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°和360°。移相器既要保證(zheng)在一定(ding)的(de)頻率范圍內獲得所需(xu)的(de)相移值，又要滿足一定(ding)的(de)功率電阻、溫(wen)度穩定(ding)性等要求(qiu)，以保證(zheng)相控(kong)陣檢測在不同頻率和不斷變化的(de)環(huan)境條件下都(dou)能正常工作。

檢測(ce)輻射單元(yuan)的設計應使(shi)輸入阻抗在一定相(xiang)移范圍(或波束掃描(miao)范圍)和一(yi)定(ding)頻率范圍內的(de)變化最小(xiao)化，以保證發射機的(de)正(zheng)常(chang)工作，防止射頻信號多(duo)次反射在方(fang)向圖中(zhong)產(chan)生寄生副瓣和凹點(盲點)。為此，可以采用(yong)相互耦合較小的單(dan)元或(huo)專門的解耦措施。