無(wu)損(sun)探(tan)傷指的(de)是不(bu)(bu)損(sun)壞工(gong)件(jian)(jian)或原資料工(gong)作狀況(kuang)的(de)前(qian)提(ti)下(xia)(xia)，對被(bei)檢(jian)驗(yan)部件(jian)(jian)的(de)外表(biao)和(he)(he)內部質量進行(xing)查看(kan)的(de)一種測驗(yan)手法。是檢(jian)驗(yan)部件(jian)(jian)的(de)外表(biao)和(he)(he)內部質量的(de)測驗(yan)手法。運用聲、光、磁(ci)和(he)(he)電等(deng)(deng)特(te)性(xing)，在不(bu)(bu)危(wei)害(hai)或不(bu)(bu)影響(xiang)被(bei)檢(jian)目(mu)標(biao)運用性(xing)能的(de)前(qian)提(ti)下(xia)(xia)，檢(jian)測被(bei)檢(jian)目(mu)標(biao)中(zhong)是否存在缺陷或不(bu)(bu)均勻性(xing)，給出缺陷的(de)巨細、方位、性(xing)質和(he)(he)數量等(deng)(deng)信(xin)息，然(ran)后(hou)斷定被(bei)檢(jian)目(mu)標(biao)所處技能狀況(kuang)(如合(he)格與(yu)否、剩(sheng)余(yu)壽命等(deng)(deng))的(de)所有技能手法的(de)總稱。

常用的無損檢測辦法：超(chao)聲(sheng)檢測(UT)、磁粉(fen)檢測(MT)、液體浸透檢測(PT)及(ji)X射(she)線(xian)檢測(RT)。

超聲檢測法

超(chao)聲(sheng)檢測(ce)，業內人士(shi)簡稱UT，是(shi)(shi)工(gong)業無損(sun)檢測(ce)中應(ying)用(yong)(yong)最廣泛、運用(yong)(yong)頻率最高且發展較快(kuai)的(de)(de)一種(zhong)無損(sun)檢測(ce)技能，能夠用(yong)(yong)于(yu)產品(pin)制作中質量操(cao)控、原資料(liao)檢驗、改(gai)進工(gong)藝等多個方面，一起也是(shi)(shi)設備維(wei)護中不(bu)可或缺(que)的(de)(de)手法之一。

磁粉檢(jian)測

再來了解一下，磁(ci)(ci)粉(fen)檢測(ce)的(de)原理。鐵磁(ci)(ci)性(xing)資料和(he)工件被(bei)磁(ci)(ci)化后(hou)，因(yin)為不(bu)連續性(xing)的(de)存在，工件外(wai)表(biao)和(he)近(jin)外(wai)表(biao)的(de)磁(ci)(ci)力線發生(sheng)局部畸變，而發生(sheng)漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)，吸附施加在工件外(wai)表(biao)的(de)磁(ci)(ci)粉(fen)，構成在合(he)適光(guang)照下目視可見的(de)磁(ci)(ci)痕，然后(hou)顯現出不(bu)連續性(xing)的(de)方位(wei)、形狀和(he)巨細。

磁粉檢測的(de)適用(yong)性和局限(xian)性有：

1、磁粉(fen)探傷適(shi)用于(yu)檢測鐵(tie)磁性(xing)資(zi)料外表(biao)和近外表(biao)尺(chi)寸(cun)很小、空隙極窄(zhai)目視難(nan)以看出的(de)不(bu)連續性(xing)。

2、磁(ci)粉檢(jian)測可對多(duo)種情況(kuang)下的(de)零(ling)部件檢(jian)測，還可多(duo)種型件進行檢(jian)測。

3、可發(fa)現裂紋(wen)、夾雜(za)、發(fa)紋(wen)、白點、折疊、冷(leng)隔和(he)疏松等缺陷。

4、磁粉檢測(ce)不能(neng)檢測(ce)奧氏體不銹鋼資料和用奧氏體不銹鋼焊(han)條(tiao)焊(han)接的(de)焊(han)縫，也不能(neng)檢測(ce)銅鋁鎂鈦(tai)等非(fei)磁性(xing)資料。關于外表(biao)淺劃(hua)傷、埋藏較深洞(dong)和與工件外表(biao)夾(jia)角小于20°的(de)分層和折疊很難發(fa)現。

液(ye)體浸透檢測

液體浸透(tou)檢(jian)測的(de)(de)基本原理，零件(jian)外(wai)(wai)(wai)(wai)表(biao)被(bei)施(shi)(shi)涂含(han)有(you)熒光(guang)染料或上色染料后，在一(yi)段(duan)時間的(de)(de)毛細管(guan)效果下，浸透(tou)液能夠浸透(tou)進外(wai)(wai)(wai)(wai)表(biao)開口缺陷中，經去(qu)除零件(jian)外(wai)(wai)(wai)(wai)表(biao)剩余的(de)(de)浸透(tou)液后，再在零件(jian)外(wai)(wai)(wai)(wai)表(biao)施(shi)(shi)涂顯像劑(ji)；

同樣(yang)，在(zai)毛(mao)細管的(de)效果下，顯(xian)像(xiang)劑(ji)將招引(yin)缺陷(xian)中(zhong)保存的(de)浸透(tou)液，浸透(tou)液回滲到顯(xian)像(xiang)劑(ji)中(zhong)，在(zai)必(bi)定的(de)光源下(紫外(wai)線光或(huo)白光)，缺陷(xian)處的(de)浸透(tou)液痕跡被現(xian)實，(黃綠色熒光或(huo)艷麗赤(chi)色)，然后勘探出缺陷(xian)的(de)形貌及散布(bu)狀況。

浸透檢測的優點有：

1、可檢測各種資(zi)料；

2、具有較(jiao)高的靈敏(min)度；

3、顯現直觀(guan)、操作方便、檢(jian)測費用低(di)。

而(er)浸(jin)透檢測的缺陷有：

1、不適于查看(kan)多孔性(xing)疏松資料制成的工件和外表粗(cu)糙的工件；

2、浸(jin)透檢(jian)(jian)測(ce)只(zhi)能檢(jian)(jian)出缺(que)(que)陷(xian)(xian)的外表散布，難以確定(ding)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的實(shi)際(ji)深(shen)度，因(yin)此(ci)很(hen)難對缺(que)(que)陷(xian)(xian)做出定(ding)量(liang)點評。檢(jian)(jian)出結果受(shou)操作者的影(ying)響也較(jiao)大。

X射線(xian)檢(jian)測(ce)

最終一(yi)種，射線(xian)檢測，是因為 X射線(xian)穿過被照射物(wu)體后(hou)會有損耗(hao)，不(bu)(bu)同厚度(du)不(bu)(bu)同物(wu)質對它們的吸收率不(bu)(bu)同；

而(er)底(di)片(pian)放在被照(zhao)射(she)物體的另(ling)一側(ce)，會因為射(she)線強度不同而(er)發生相(xiang)應的圖形,評片(pian)人(ren)員就能夠依(yi)據影像來判(pan)別(bie)物體內部的是(shi)否(fou)有(you)缺(que)陷(xian)以(yi)及缺(que)陷(xian)的性(xing)質。

射線檢測的適(shi)用性(xing)和局(ju)限(xian)性(xing)：

1、對檢測(ce)體積(ji)型(xing)的(de)缺(que)陷比較敏感，比較容(rong)易(yi)對缺(que)陷進行定性。

2、射(she)線(xian)底片易于保(bao)存，有追(zhui)溯性。

3、直觀顯現缺陷的形狀和類型。

4、缺陷(xian)不能定(ding)位缺陷(xian)的埋藏深度，一起檢測厚度有限(xian)，底片需專門送洗(xi)，而且對(dui)人身體(ti)有必定(ding)害，成本較高。